局部放電檢測儀試驗過程中干擾的分類

  由種種原因引起的干擾將嚴重地影響局部放電檢測儀局部放電試驗。假使這些干擾是連續(xù)的而且其幅值是基本相同的(背景噪聲)，它們將會降低檢測儀的有效靈敏度，即最小可見放電量比所用試驗線路的理論最小值要大。這種形式的干擾會隨電壓而增大，因而靈敏度是按比例下降的。在其他的一些情況中，隨電壓的升高而在試驗線路中出現(xiàn)的放電，可以認為是發(fā)生在試驗樣品的內(nèi)部。

  因此，重要的是將干擾降低到最小值，以及使用帶有放電實際波形顯示的局部放電檢測儀，以最大的可能從試樣的干擾放電中鑒別出假的干擾放電響應(yīng)。根據(jù)測量試驗回路中可能的干擾源位置可將干擾源分為兩類：第一類與外施高壓大小無關(guān)的干擾，第二類是僅在高壓加于回路時才產(chǎn)生的干擾。

  局放干擾的分類

  干擾的主要形式如下：

  (1)來自電源的干擾，這類干擾只要控制、調(diào)壓器與變壓器等是接通的(不必升壓即可能影響測量;

  (2)來自接地系統(tǒng)的干擾，通常指接地連接不好或多重接地時，不同接地點的電位：差在局部放電檢測儀器上造成的干擾偏轉(zhuǎn);

  (3)從別的高壓試驗或者電磁輻射檢測到的干擾，它是由回路外部的電磁場對回路的電磁耦合引起的包括電臺的射頻干擾，鄰近的高壓設(shè)備，日光燈、電焊、電弧或火花放電的干擾;

  (4)試驗線路的放電;

  (5)由于試驗線路或樣品內(nèi)的接觸不良引起的接觸噪聲。